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纳米Bi2O3 BiVO4 a和Bi2WO6表面性质对可见光催化行为的影响
来源:海洋光学 资料
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原子荧光测定化探样品中As、Sb、Bi、Hg 时注意的问题
摘 要:常规化学分析是难以满足化探分析要求的。目前,氢化物发生- 原子荧光光谱法技术对As、Sb、Bi 、Hg 的分析测定已成为成熟可靠的分析方法。
来源:yty6699 资料
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原子荧光光谱法测定不同产地茶叶中As , Se , Hg 和Bi 四种元素含量
来源:yty6699 资料
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氢化物发生原子荧光光谱法测定化探样品中的Bi和Se
摘要:应用氢化物发生原子荧光光谱法测定化探样品中的Bi和Se。
来源:yty6699 资料
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使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Bi 元素
来源:安捷伦科技(中国)有限公司 相关产品:Agilent 8900 三重四极杆 ICP-MS 应用
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ICP-AES法测定铜精矿中As、Sb、Bi、Ca、Mg、Pb、Co、Zn和Ni 冯宝艳
来源:bluedays 资料
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解决方案|锰铁合金中B、Pb、Bi、Zn、Mn、P、Cr、Ti元素含量测定
来源:北京东西分析仪器有限公司 相关产品:ICP-7700型电感耦合等离子发射光谱仪 应用
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食品中As,Bi,Ge,Sb,Se,和Sn六种元素同时测定-飞行时间质谱法
来源:l0802102 资料
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氢化物发生原子荧光法和无火焰原子荧光法连续测定地球化学样品中的A s、Sb、Bi、Hg
摘 要 建立了一种连续测定A s、Sb、Bi、Hg四元素的方法。对测汞用还原剂及几种测量体系进行了比较,采用对原子化器适当加温的无火焰原子荧光法测汞,以KM nO 4消除T e、Se对汞测定的干扰。
来源:F20090330 资料
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biǎo miàn zhāng lì] 表面张力仪
来源:北京哈科试验仪器厂 资料
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